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Pump-probe localization technique of varying solid contacts.
Terzi, M; Chehami, L; Farin, M; Moulin, E; Aleshin, V; Smagin, N; de Rosny, J; Benmeddour, F.
Afiliación
  • Terzi M; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France.
  • Chehami L; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France.
  • Farin M; Institut Langevin, Centre National de la Recherche Scientifique, Unité Mixte de Recherche 7587, F-75231 Paris, France.
  • Moulin E; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France.
  • Aleshin V; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France.
  • Smagin N; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France.
  • de Rosny J; Institut Langevin, Centre National de la Recherche Scientifique, Unité Mixte de Recherche 7587, F-75231 Paris, France.
  • Benmeddour F; Université de Lille, Centre National de la Recherche Scientifique, Centrale Lille, Université Polytechnique Hauts-de-France, Unité Mixte de Recherche 8520, Institut d'Électronique de Microélectronique et de Nanotechnologie, F-59000 Lille, France.
J Acoust Soc Am ; 149(5): 2943, 2021 May.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34241124
A baseline-free defect localization method in thin plates is proposed and tested. In this proof-of-concept work, a steel ball pressed against an aluminum plate is used to mimic a surface contact defect. The technique takes benefit of a repetitive nonlinear pump-probe interaction with a backpropagation imaging algorithm. High-frequency probe waves are periodically emitted by a piezoelectric patch transducer glued to the plate. Propagated flexural waves are recorded using a distributed array of transducers. At the same time, a continuous low-frequency pump vibration provided by a shaker fixed to the plate modulates the contact state. By combining multiple probe signals, the contact can be successfully localized. Contrast of the localization images is finally improved by a factor of 3 to 5 by implementing a modified version based on synchronous detection of the imaging algorithm.

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Acoust Soc Am Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia

Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Acoust Soc Am Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: Francia