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Subpixel Localization of Isolated Edges and Streaks in Digital Images.
Renshaw, Devin T; Christian, John A.
Afiliación
  • Renshaw DT; Department of Mechanical, Aerospace, and Nuclear Engineering, Rensselaer Polytechnic Institute, Troy, NY 12180, USA.
  • Christian JA; Department of Mechanical, Aerospace, and Nuclear Engineering, Rensselaer Polytechnic Institute, Troy, NY 12180, USA.
J Imaging ; 6(5)2020 May 18.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34460735
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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Imaging Año: 2020 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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