Oxygen Concentration Effect on Conductive Bridge Random Access Memory of InWZnO Thin Film.
Nanomaterials (Basel)
; 11(9)2021 Aug 27.
Article
en En
| MEDLINE
| ID: mdl-34578520
Texto completo:
1
Bases de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Clinical_trials
Idioma:
En
Revista:
Nanomaterials (Basel)
Año:
2021
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
Taiwán