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Continuous Multiple Pass Electron Counted Spectrum Imaging Optimized for In-Situ Analysis.
Spillane, Liam; Miller, Benjamin; Schaffer, Bernhard; Thomas, Paul J; Twesten, Ray D; Conroy, Michele.
Afiliación
  • Spillane L; Gatan Inc., Pleasanton, CA, USA.
  • Miller B; Gatan Inc., Pleasanton, CA, USA.
  • Schaffer B; Gatan Inc., Pleasanton, CA, USA.
  • Thomas PJ; Gatan Inc., Pleasanton, CA, USA.
  • Twesten RD; Gatan Inc., Pleasanton, CA, USA.
  • Conroy M; Department of Materials, Imperial College London, UK.
Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 371-372, 2023 Jul 22.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37613031
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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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