Elemental analysis within the electrical double layer using total reflection X-ray fluorescence technique.
J Phys Chem B
; 111(15): 3927-34, 2007 Apr 19.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-17388549
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Base de dados:
MEDLINE
Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
J Phys Chem B
Assunto da revista:
QUIMICA
Ano de publicação:
2007
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Federação Russa