Charge implantation measurement on electron-irradiated insulating materials by means of an SEM technique. | Microsc Microanal;10(6): 697-710, 2004 Dec. | MEDLINE

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Charge implantation measurement on electron-irradiated insulating materials by means of an SEM technique.

Jbara, Omar; Fakhfakh, Slim; Belhaj, Mohamed; Rondot, Sebastien.

Afiliação

Jbara O; Dynamique de Transferts aux Interfaces, Centre National de la Recherche Scientifique, Unité Mixte de Recherche 6107, Faculté des Sciences, BP 1039, 51687 Reims Cedex 2, France. omar.jbara@univ-reims.fr

Microsc Microanal ; 10(6): 697-710, 2004 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19780310

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2004 Tipo de documento: Article País de afiliação: França

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