Charge implantation measurement on electron-irradiated insulating materials by means of an SEM technique.
Microsc Microanal
; 10(6): 697-710, 2004 Dec.
Article
em En
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| ID: mdl-19780310
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Idioma:
En
Revista:
Microsc Microanal
Ano de publicação:
2004
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
França