Investigation of fullerene embedded silicon surfaces with scanning probe microscopy. | J Nanosci Nanotechnol;10(11): 7145-8, 2010 Nov. | MEDLINE

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Investigation of fullerene embedded silicon surfaces with scanning probe microscopy.

Huang, Chih-Pong; Hsu, Chiao-Fang; Ho, Mon-Shu.

Afiliação

Huang CP; Department of Physics, National Chung Hsing University, Taichung 402, Taiwan, China.

J Nanosci Nanotechnol ; 10(11): 7145-8, 2010 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21137884

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: China

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