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Fast ion induced shearing of 2D Alfvén eigenmodes measured by electron cyclotron emission imaging.
Tobias, B J; Classen, I G J; Domier, C W; Heidbrink, W W; Luhmann, N C; Nazikian, R; Park, H K; Spong, D A; Van Zeeland, M A.
Afiliação
  • Tobias BJ; University of California, Davis, 95616, USA.
Phys Rev Lett ; 106(7): 075003, 2011 Feb 18.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21405522
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Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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