Real-time observation of FIB-created dots and ripples on GaAs. | Nanotechnology;19(3): 035301, 2008 Jan 23. | MEDLINE

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Real-time observation of FIB-created dots and ripples on GaAs.

Rose, F; Fujita, H; Kawakatsu, H.

Afiliação

Rose F; Laboratory for Integrated Micro Mechatronic Systems/Centre National de la Recherche Scientifique (UMI 2820), Institute of Industrial Science, University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan. Center for International Research on Micro Mechatronics, Institute of Industrial Science, University of Tokyo, 4-6-1 Komaba, Meguro-ku, Tokyo 153-8505, Japan.

Nanotechnology ; 19(3): 035301, 2008 Jan 23.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21817564

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Qualitative_research Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article País de afiliação: Japão

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