Note: fast and reliable fracture strain extraction technique applied to silicon at nanometer scale.
Rev Sci Instrum
; 82(11): 116106, 2011 Nov.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-22129022
Texto completo:
1
Base de dados:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Rev Sci Instrum
Ano de publicação:
2011
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
Bélgica