Thickness measurement of soft thin films on periodically patterned magnetic substrates by phase difference magnetic force microscopy.

Passeri, D; Dong, C; Angeloni, L; Pantanella, F; Natalizi, T; Berlutti, F; Marianecci, C; Ciccarello, F; Rossi, M

Passeri, D; Dong, C; Angeloni, L; Pantanella, F; Natalizi, T; Berlutti, F; Marianecci, C; Ciccarello, F; Rossi, M.

Afiliação

Passeri D; Department of Basic and Applied Sciences for Engineering, University of Rome Sapienza, Via A. Scarpa 16, 00161 Rome, Italy. Electronic address: daniele.passeri@uniroma1.it.

Ultramicroscopy ; 136: 96-106, 2014 Jan.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24056281

Assuntos

Microscopia de Força Atômica/métodos; Fenômenos Magnéticos; Staphylococcus aureus/ultraestrutura; Propriedades de Superfície

Palavras-chave

Atomic force microscopy; Bacteria; Magnetic force microscopy; Periodic magnetic domains; Thickness measurement

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia de Força Atômica Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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