Simplifying numerical ray tracing for characterization of optical systems. | Appl Opt;53(21): 4784-90, 2014 Jul 20. | MEDLINE

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Simplifying numerical ray tracing for characterization of optical systems.

Gagnon, Yakir Luc; Speiser, Daniel I; Johnsen, Sönke.

Appl Opt ; 53(21): 4784-90, 2014 Jul 20.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25090218

Assuntos

Algoritmos; Luz; Modelos Teóricos; Nefelometria e Turbidimetria/métodos; Análise Numérica Assistida por Computador; Refratometria/métodos; Espalhamento de Radiação; Simulação por Computador

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Refratometria / Espalhamento de Radiação / Algoritmos / Análise Numérica Assistida por Computador / Luz / Modelos Teóricos / Nefelometria e Turbidimetria Idioma: En Revista: Appl Opt Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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