High-resolution chemical depth profiling of solid material using a miniature laser ablation/ionization mass spectrometer. | Anal Chem;87(4): 2037-41, 2015 Feb 17. | MEDLINE

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High-resolution chemical depth profiling of solid material using a miniature laser ablation/ionization mass spectrometer.

Grimaudo, Valentine; Moreno-García, Pavel; Riedo, Andreas; Neuland, Maike B; Tulej, Marek; Broekmann, Peter; Wurz, Peter.

Afiliação

Grimaudo V; Physics Institute, Space Research and Planetary Sciences, University of Bern , Sidlerstrasse 5, 3012 Bern, Switzerland.

Anal Chem ; 87(4): 2037-41, 2015 Feb 17.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25642789

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Anal Chem Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article País de afiliação: Suíça

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