Depth profiling charge accumulation from a ferroelectric into a doped Mott insulator.
Nano Lett
; 15(4): 2533-41, 2015 Apr 08.
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em En
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| ID: mdl-25768912
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1
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Idioma:
En
Revista:
Nano Lett
Ano de publicação:
2015
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Article
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França