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Preparation and Analysis of Atom Probe Tips by Xenon Focused Ion Beam Milling.
Estivill, Robert; Audoit, Guillaume; Barnes, Jean-Paul; Grenier, Adeline; Blavette, Didier.
Afiliação
  • Estivill R; 1University of Grenoble Alpes,F-38000 Grenoble,France.
  • Audoit G; 1University of Grenoble Alpes,F-38000 Grenoble,France.
  • Barnes JP; 1University of Grenoble Alpes,F-38000 Grenoble,France.
  • Grenier A; 1University of Grenoble Alpes,F-38000 Grenoble,France.
  • Blavette D; 4Groupe de Physique des Matériaux-GPM UMR CNRS 6634,Université de Rouen,France.
Microsc Microanal ; 22(3): 576-82, 2016 06.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-27056544
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article País de afiliação: França
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