Can Point Defects in Surfaces in Solution be Atomically Resolved by Atomic Force Microscopy?
Phys Rev Lett
; 117(22): 226101, 2016 Nov 25.
Article
em En
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| ID: mdl-27925727
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Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Ano de publicação:
2016
Tipo de documento:
Article
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Austrália