Quantifying non-contact tip-sample thermal exchange parameters for accurate scanning thermal microscopy with heated microprobes. | Rev Sci Instrum;88(7): 074903, 2017 Jul. | MEDLINE

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Quantifying non-contact tip-sample thermal exchange parameters for accurate scanning thermal microscopy with heated microprobes.

Wilson, Adam A; Borca-Tasciuc, Theodorian.

Afiliação

Wilson AA; Department of Mechanical, Aerospace and Nuclear Engineering, Rensselaer Polytechnic Institute, 110 8th St., Troy, New York 12180, USA.
Borca-Tasciuc T; Department of Mechanical, Aerospace and Nuclear Engineering, Rensselaer Polytechnic Institute, 110 8th St., Troy, New York 12180, USA.

Rev Sci Instrum ; 88(7): 074903, 2017 Jul.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28764517

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2017 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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