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Versatile technique for assessing thickness of 2D layered materials by XPS.
Zemlyanov, Dmitry Y; Jespersen, Michael; Zakharov, Dmitry N; Hu, Jianjun; Paul, Rajib; Kumar, Anurag; Pacley, Shanee; Glavin, Nicholas; Saenz, David; Smith, Kyle C; Fisher, Timothy S; Voevodin, Andrey A.
Afiliação
  • Zemlyanov DY; Birck Nanotechnology Center, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA.
Nanotechnology ; 29(11): 115705, 2018 Mar 16.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-29323661
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2018 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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