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Data Acquisition and Control of Electron Microscopes.
Meyer, Chris E; Dellby, Niklas; Haas, Benedikt; Lovejoy, Tracy; Skone, Gwyn S; Plotkin-Swing, Ben; Mittelberger, Andreas; Krivanek, Ondrej L.
Afiliação
  • Meyer CE; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Dellby N; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Haas B; Department of Physics & IRIS Adlershof, Humboldt-Universität zu Berlin, Berlin, Germany.
  • Lovejoy T; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Skone GS; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Plotkin-Swing B; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Mittelberger A; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Krivanek OL; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 700-701, 2023 Jul 22.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37613424
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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