Detalhe da pesquisa
1.
Controlled formation and resistivity scaling of nickel silicide nanolines.
Nanotechnology
; 20(8): 085304, 2009 Feb 25.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-19417448
2.
RM 8111: Development of a Prototype Linewidth Standard.
J Res Natl Inst Stand Technol
; 111(3): 187-203, 2006.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-27274928
3.
Fabrication and characterization of patterned single-crystal silicon nanolines.
Nano Lett
; 8(1): 92-8, 2008 Jan.
Artigo
em Inglês
| MEDLINE | ID: mdl-18062713