Characterization of counterion and surface influence on micelle formation using tapping mode atomic force microscopy in air. | J Phys Chem B;110(43): 21710-8, 2006 Nov 02. | MEDLINE

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Characterization of counterion and surface influence on micelle formation using tapping mode atomic force microscopy in air.

Chaal, Lila; Pillier, Françoise; Saidani, Boualem; Joiret, Suzanne; Pailleret, Alain; Deslouis, Claude.

Afiliação

Chaal L; UPR 15 CNRS Interfaces et Systèmes Electrochimiques, University P et M. Curie, 4 Place Jussieu, 75252 Paris Cédex 05, France.

J Phys Chem B ; 110(43): 21710-8, 2006 Nov 02.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17064130

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Phys Chem B Assunto da revista: QUIMICA Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article País de afiliação: França

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