Electron tomographic resolution of microns-thick specimens in the ultrahigh voltage electron microscope. | Micron;49: 71-4, 2013 Jun. | MEDLINE

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Electron tomographic resolution of microns-thick specimens in the ultrahigh voltage electron microscope.

Cao, Meng; Wang, Fang; Qiao, Zhi-Wei; Zhang, Hai-Bo; Nishi, Ryuji.

Afiliação

Cao M; Key Laboratory for Physical Electronics and Devices of the Ministry of Education, Department of Electronic Science and Technology, Xi'an Jiaotong University, Xi'an 710049, People's Republic of China.

Micron ; 49: 71-4, 2013 Jun.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23528481

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Micron Assunto da revista: DIAGNOSTICO POR IMAGEM Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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