Swept source optical coherence microscopy using a 1310 nm VCSEL light source.

Ahsen, Osman O; Tao, Yuankai K; Potsaid, Benjamin M; Sheikine, Yuri; Jiang, James; Grulkowski, Ireneusz; Tsai, Tsung-Han; Jayaraman, Vijaysekhar; Kraus, Martin F; Connolly, James L; Hornegger, Joachim; Cable, Alex; Fujimoto, James G

Ahsen, Osman O; Tao, Yuankai K; Potsaid, Benjamin M; Sheikine, Yuri; Jiang, James; Grulkowski, Ireneusz; Tsai, Tsung-Han; Jayaraman, Vijaysekhar; Kraus, Martin F; Connolly, James L; Hornegger, Joachim; Cable, Alex; Fujimoto, James G.

Afiliação

Ahsen OO; Department of Electrical Engineering & Computer Science and Research Laboratory of Electronics, Massachusetts Institute of Technology, Cambridge, MA, USA.

Opt Express ; 21(15): 18021-33, 2013 Jul 29.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23938673

Assuntos

Aumento da Imagem/instrumentação; Lasers; Iluminação/instrumentação; Microscopia/instrumentação; Tomografia de Coerência Óptica/instrumentação; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Humanos

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Iluminação / Aumento da Imagem / Tomografia de Coerência Óptica / Lasers / Microscopia Limite: Humans Idioma: En Revista: Opt Express Assunto da revista: OFTALMOLOGIA Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

Texto completo

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar no Google