Measuring the lifetime of silicon nanocrystal solar cell photo-carriers by using Kelvin probe force microscopy and x-ray photoelectron spectroscopy. | Nanotechnology;25(26): 265703, 2014 Jul 04. | MEDLINE

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Measuring the lifetime of silicon nanocrystal solar cell photo-carriers by using Kelvin probe force microscopy and x-ray photoelectron spectroscopy.

Borowik, L; Lepage, H; Chevalier, N; Mariolle, D; Renault, O.

Afiliação

Borowik L; CEA, LETI, MINATEC Campus, 17 rue des Martyrs, 38054 GRENOBLE Cedex 9, France.

Nanotechnology ; 25(26): 265703, 2014 Jul 04.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24916454

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article País de afiliação: França

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