Demonstration of a robust insertion loss measuring approach for low-loss silicon photonic devices. | Opt Express;27(14): 19827-19833, 2019 Jul 08. | MEDLINE

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Demonstration of a robust insertion loss measuring approach for low-loss silicon photonic devices.

Yang, Fenghe; Deng, Qingzhong; Sun, Pengfei; Bai, Bowen; Zhou, Zhiping.

Opt Express ; 27(14): 19827-19833, 2019 Jul 08.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-31503737

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Express Assunto da revista: OFTALMOLOGIA Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article

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