Fine grains ceramics of PIN-PT, PIN-PMN-PT and PMN-PT systems: drift of the dielectric constant under high electric field.

Pham-Thi, M; Augier, C; Dammak, H; Gaucher, P.

Afiliação

Pham-Thi M; Thales Research and Technology France, Route Départementale 128, F-91767 Palaiseau Cedex, France. mai.phamthi@thalesgroup.com <mai.phamthi@thalesgroup.com>

Ultrasonics ; 44 Suppl 1: e627-31, 2006 Dec 22.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-16793076

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article

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