Paraxial speckle-based metrology systems with an aperture.

Kelly, Damien P; Ward, Jennifer E; Hennelly, Bryan M; Gopinathan, Unnikrishnan; O'Neill, Feidhlim T; Sheridan, John T.

Afiliação

Kelly DP; School of Electrical, Electronic and Mechanical Engineering, College of Engineering, Mathematical and Physical Sciences, University College Dublin, Belfield, Dublin 4, Ireland.

J Opt Soc Am A Opt Image Sci Vis ; 23(11): 2861-70, 2006 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17047714

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article

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