Optimized FIB silicon samples suitable for lattice parameters measurements by convergent beam electron diffraction.

Alexandre, L; Rousseau, K; Alfonso, C; Saikaly, W; Fares, L; Grosjean, C; Charaï, A.

Afiliação

Alexandre L; TECSEN-UMR 6122, Université Paul Cézanne, Aix-Marseille, Faculté des Sciences de Saint-Jérôme, 13397 Marseille cedex 20, France.

Micron ; 39(3): 294-301, 2008.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17346978

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article

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