Characterization of pyramidal inversion boundaries in Sb2O3-doped ZnO by using electron back-scattered diffraction (EBSD). | Acta Crystallogr A;63(Pt 3): 229-33, 2007 May. | MEDLINE

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Characterization of pyramidal inversion boundaries in Sb2O3-doped ZnO by using electron back-scattered diffraction (EBSD).

Jo, Wook; Park, Chan; Kim, Doh-Yeon.

Afiliação

Jo W; Department of Materials Science and Engineering, Seoul National University, Seoul 151-744, Korea. whdnr01@snu.ac.kr

Acta Crystallogr A ; 63(Pt 3): 229-33, 2007 May.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17435286

Assuntos

Antimônio/química; Cerâmica/química; Óxido de Zinco/química; Microscopia Eletrônica de Varredura

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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Óxido de Zinco / Cerâmica / Antimônio Idioma: En Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article

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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Óxido de Zinco / Cerâmica / Antimônio Idioma: En Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article