Variable-temperature independently driven four-tip scanning tunneling microscope.

Hobara, Rei; Nagamura, Naoka; Hasegawa, Shuji; Matsuda, Iwao; Yamamoto, Yuko; Miyatake, Yutaka; Nagamura, Toshihiko

Hobara, Rei; Nagamura, Naoka; Hasegawa, Shuji; Matsuda, Iwao; Yamamoto, Yuko; Miyatake, Yutaka; Nagamura, Toshihiko.

Afiliação

Hobara R; Department of Physics, School of Science, University of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, Japan. rei@surface.phys.s.u-tokyo.ac.jp

Rev Sci Instrum ; 78(5): 053705, 2007 May.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17552823

Assuntos

Aumento da Imagem/instrumentação; Interpretação de Imagem Assistida por Computador/instrumentação; Interpretação de Imagem Assistida por Computador/métodos; Microscopia de Tunelamento/instrumentação; Transdutores; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento; Aumento da Imagem/métodos; Microscopia de Tunelamento/métodos; Reprodutibilidade dos Testes; Sensibilidade e Especificidade; Temperatura

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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Transdutores / Interpretação de Imagem Assistida por Computador / Aumento da Imagem / Microscopia de Tunelamento Idioma: En Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article

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