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Finite sample effect in temperature gradient focusing.
Lin, Hao; Shackman, Jonathan G; Ross, David.
Afiliação
  • Lin H; Mechanical & Aerospace Engineering, Rutgers, The State University of New Jersey, 98 Brett Rd, Piscataway, NJ 08854, USA. hlin@jove.rutgers.edu
Lab Chip ; 8(6): 969-78, 2008 Jun.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18497919

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Análise de Elementos Finitos / Eletroforese / Eletro-Osmose / Focalização Isoelétrica Idioma: En Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Análise de Elementos Finitos / Eletroforese / Eletro-Osmose / Focalização Isoelétrica Idioma: En Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article