Compositional analysis of mixed-cation-anion III-V semiconductor interfaces using phase retrieval high-resolution transmission electron microscopy.
J Microsc
; 230(Pt 3): 372-81, 2008 Jun.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-18503662
Texto completo:
1
Base de dados:
MEDLINE
Assunto principal:
Semicondutores
/
Microscopia Eletrônica de Transmissão
/
Gálio
/
Índio
Idioma:
En
Ano de publicação:
2008
Tipo de documento:
Article