Depth magnetization profile of a perpendicular exchange coupled system by soft-x-ray resonant magnetic reflectivity.

Tonnerre, J M; De Santis, M; Grenier, S; Tolentino, H C N; Langlais, V; Bontempi, E; García-Fernández, M; Staub, U.

Afiliação

Tonnerre JM; Institut Néel, CNRS & Université Joseph Fourier, Grenoble Cedex 9, France.

Phys Rev Lett ; 100(15): 157202, 2008 Apr 18.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18518146

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article

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