Dual-frequency pattern scheme for high-speed 3-D shape measurement.

Liu, Kai; Wang, Yongchang; Lau, Daniel L; Hao, Qi; Hassebrook, Laurence G.

Afiliação

Liu K; Department of Electrical Engineering, University of Kentucky, Lexington, KY 40507, USA.

Opt Express ; 18(5): 5229-44, 2010 Mar 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20389536

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article

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