ToF-SIMS imaging of the nanoscale phase separation in polymeric light emitting diodes: effect of nanostructure on device efficiency. | Analyst;136(4): 716-23, 2011 Feb 21. | MEDLINE

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ToF-SIMS imaging of the nanoscale phase separation in polymeric light emitting diodes: effect of nanostructure on device efficiency.

Yu, Bang-Ying; Kuo, Che-Hung; Wang, Wei-Ben; Yen, Guo-Ji; Iida, Shin-ichi; Chen, Sun-Zen; Lin, Wei-Chun; Lee, Szu-Hsian; Kao, Wei-Lun; Liu, Chia-Yi; Chang, Hsun-Yun; You, Yun-Wen; Chang, Chi-Jen; Liu, Chi-Ping; Jou, Jwo-Huei; Shyue, Jing-Jong.

Afiliação

Yu BY; Research Center for Applied Sciences, Academia Sinica, Taipei, Taiwan.

Analyst ; 136(4): 716-23, 2011 Feb 21.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20938503

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article

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