Non-iterative characterization of few-cycle laser pulses using flat-top gates.
Opt Express
; 20(6): 5955-61, 2012 Mar 12.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-22418471
Texto completo:
1
Base de dados:
MEDLINE
Assunto principal:
Refratometria
/
Análise de Falha de Equipamento
/
Lasers
Idioma:
En
Ano de publicação:
2012
Tipo de documento:
Article