X-ray absorption spectroscopy by full-field X-ray microscopy of a thin graphite flake: Imaging and electronic structure via the carbon K-edge.

Bittencourt, Carla; Hitchock, Adam P; Ke, Xiaoxing; Van Tendeloo, Gustaaf; Ewels, Chris P; Guttmann, Peter.

Afiliação

Bittencourt C; Electron Microscopy for Materials Science (EMAT), University of Antwerp, B-2020 Antwerp, Belgium.

Beilstein J Nanotechnol ; 3: 345-50, 2012.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23016137

Palavras-chave

NEXAFS; X-ray microscopy; carbon; graphene; nanostructure

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article

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