Spectroscopic ellipsometry of Zn(1-x)Cu(x)O thin films based on a modified sol-gel dip-coating technique.

Al-Khanbashi, Hibah A; Shirbeeny, W; Al-Ghamdi, A A; Bronstein, Lyudmila M; Mahmoud, Waleed E

Al-Khanbashi, Hibah A; Shirbeeny, W; Al-Ghamdi, A A; Bronstein, Lyudmila M; Mahmoud, Waleed E.

Afiliação

Al-Khanbashi HA; King Abdulaziz University, Faculty of Science, Physics Department, Jeddah, Saudi Arabia. Electronic address: hibah_alkhanbashi@yahoo.com.

Spectrochim Acta A Mol Biomol Spectrosc ; 118: 800-5, 2014 Jan 24.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24157332

Assuntos

Cobre/química; Nanopartículas/química; Zinco/química; Transição de Fase; Refratometria; Espectrometria por Raios X; Difração de Raios X

Palavras-chave

Ellipsometry; Energy loss functions; Optical constants; Structure; Thin film

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Zinco / Cobre / Nanopartículas Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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