Sample thickness determination by scanning transmission electron microscopy at low electron energies.

Volkenandt, Tobias; Müller, Erich; Gerthsen, Dagmar.

Afiliação

Volkenandt T; Laboratorium für Elektronenmikroskopie, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Engesserstr. 7, 76131 Karlsruhe, Germany.
Müller E; Laboratorium für Elektronenmikroskopie, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Engesserstr. 7, 76131 Karlsruhe, Germany.
Gerthsen D; Laboratorium für Elektronenmikroskopie, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Engesserstr. 7, 76131 Karlsruhe, Germany.

Microsc Microanal ; 20(1): 111-23, 2014 Feb.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24331292

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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