Combining atomistic simulation and X-ray diffraction for the characterization of nanostructures: a case study on fivefold twinned nanowires.

Niekiel, Florian; Bitzek, Erik; Spiecker, Erdmann.

Afiliação

Niekiel F; Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg , 91058 Erlangen, Germany.

ACS Nano ; 8(2): 1629-38, 2014 Feb 25.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24417379

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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