Corrigendum: Dark-field X-ray microscopy for multiscale structural characterization.

Simons, H; King, A; Ludwig, W; Detlefs, C; Pantleon, W; Schmidt, S; Stöhr, F; Snigireva, I; Snigirev, A; Poulsen, H F.

Nat Commun ; 6: 6612, 2015 Mar 05.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25739984

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article

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