Excess processing of oxidative damaged bases causes hypersensitivity to oxidative stress and low dose rate irradiation.

Yoshikawa, Y; Yamasaki, A; Takatori, K; Suzuki, M; Kobayashi, J; Takao, M; Zhang-Akiyama, Q-M

Yoshikawa, Y; Yamasaki, A; Takatori, K; Suzuki, M; Kobayashi, J; Takao, M; Zhang-Akiyama, Q-M.

Afiliação

Yoshikawa Y; a Laboratory of Stress Response Biology, Graduate School of Science, Kyoto University , Kitashirakawa-oiwakecho, Sakyo-ku, Kyoto, Japan.

Free Radic Res ; 49(10): 1239-48, 2015 Oct.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26059740

Assuntos

Reparo do DNA; Raios gama/efeitos adversos; Íons Pesados/efeitos adversos; Peróxido de Hidrogênio/farmacologia; Radical Hidroxila/efeitos adversos; Estresse Oxidativo; Tolerância a Radiação/genética; Raios Ultravioleta/efeitos adversos; Biomarcadores; Quebras de DNA de Cadeia Dupla; Dano ao DNA; DNA Glicosilases/genética; DNA Glicosilases/fisiologia; Indução Enzimática; Guanina/análogos & derivados; Guanina/análise; Células HeLa; Histonas/análise; Humanos; Testes para Micronúcleos; Proteínas Recombinantes de Fusão/metabolismo; Transfecção

Palavras-chave

8-oxoG; clustered damage; hOGG1; low dose rate radiation; micronuclei; reactive oxygen species

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Tolerância a Radiação / Raios Ultravioleta / Radical Hidroxila / Estresse Oxidativo / Íons Pesados / Reparo do DNA / Raios gama / Peróxido de Hidrogênio Idioma: En Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article

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