Quantification of surface displacements and electromechanical phenomena via dynamic atomic force microscopy.

Balke, Nina; Jesse, Stephen; Yu, Pu; Kalinin, Sergei V; Tselev, Alexander.

Afiliação

Balke N; Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN 37831, USA.

Nanotechnology ; 27(42): 425707, 2016 Oct 21.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-27631885

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article