3D-printed optical probes for wafer-level testing of photonic integrated circuits.

Trappen, Mareike; Blaicher, Matthias; Dietrich, Philipp-Immanuel; Dankwart, Colin; Xu, Yilin; Hoose, Tobias; Billah, Muhammad Rodlin; Abbasi, Amin; Baets, Roel; Troppenz, Ute; Theurer, Michael; Wörhoff, Kerstin; Seyfried, Moritz; Freude, Wolfgang; Koos, Christian.

Opt Express ; 28(25): 37996-38007, 2020 Dec 07.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-33379622

Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article

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