Scattering angle dependence of temperature susceptivity of electron scattering in scanning transmission electron microscopy. | Ultramicroscopy;232: 113419, 2022 Jan. | MEDLINE

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Scattering angle dependence of temperature susceptivity of electron scattering in scanning transmission electron microscopy.

Zhu, Menglin; Hwang, Jinwoo.

Afiliação

Zhu M; Department of Materials Science and Engineering, The Ohio State University, Columbus, OH 43210, USA.
Hwang J; Department of Materials Science and Engineering, The Ohio State University, Columbus, OH 43210, USA. Electronic address: hwang.458@osu.edu.

Ultramicroscopy ; 232: 113419, 2022 Jan.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-34740029

Palavras-chave

4D STEM; PACBED Phonon; Temperature measurement; Thermal diffuse scattering; Thermal property

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2022 Tipo de documento: Article

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