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Ultra-high Resolution EELS Analysis and STEM Imaging at 20 keV.
Dellby, N; Quillin, S C; Krivanek, O L; Hrncirik, P; Mittelberger, A; Plotkin-Swing, B; Lovejoy, T C.
Afiliação
  • Dellby N; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Quillin SC; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Krivanek OL; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Hrncirik P; Department of Physics, Arizona State University, Tempe AZ, USA.
  • Mittelberger A; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Plotkin-Swing B; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Lovejoy TC; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 626-627, 2023 Jul 22.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37613322
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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article
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