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High-precision system for automatic null ellipsometric measurement.
Zhu, Henian; Liu, Liguo; Wen, Yiwu; Lü, Zhengde; Zhang, Baizhe.
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  • Zhu H; Tsinghua University, Beijing, China. zhn-dmp@mail.tsinghua.edu.cn
Appl Opt ; 41(22): 4536-40, 2002 Aug 01.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-12153082
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Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 2002 Tipo del documento: Article País de afiliación: China
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