An AFM, XPS and wettability study of the surface heterogeneity of PS/PMMA-r-PMAA demixed thin films. | J Colloid Interface Sci;319(1): 63-71, 2008 Mar 01. | MEDLINE

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An AFM, XPS and wettability study of the surface heterogeneity of PS/PMMA-r-PMAA demixed thin films.

Zuyderhoff, Emilienne M; Dekeyser, Caroline M; Rouxhet, Paul G; Dupont-Gillain, Christine C.

Afiliación

Zuyderhoff EM; Unité de chimie des interfaces, Université catholique de Louvain, Croix du Sud 2/18, 1348 Louvain-la-Neuve, Belgium.

J Colloid Interface Sci ; 319(1): 63-71, 2008 Mar 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18076895

Asunto(s)

Polimetil Metacrilato/química; Poliestirenos/química; Agua/química; Microscopía de Fuerza Atómica; Espectrofotometría; Propiedades de Superficie; Rayos X

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Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Poliestirenos / Agua / Polimetil Metacrilato Idioma: En Revista: J Colloid Interface Sci Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Bélgica

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