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X-ray analysis and mapping by wavelength dispersive X-ray spectroscopy in an electron microscope.
Tanaka, Miyoko; Takeguchi, Masaki; Furuya, Kazuo.
Afiliación
  • Tanaka M; National Institute for Materials Science, 3-13 Sakura, Tsukuba, Ibaraki 305-0003, Japan. TANAKA.Miyoko@nims.go.jp
Ultramicroscopy ; 108(11): 1427-31, 2008 Oct.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18644673

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón

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