Optical and mechanical characterization of evaporated SiO(2) layers. Long-term evolution.
Appl Opt
; 35(25): 5067-72, 1996 Sep 01.
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Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
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MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Appl Opt
Año:
1996
Tipo del documento:
Article